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產品中心

Product Center
  • KT-Z160T-RL高低溫真空探針臺

    高低溫真空探針臺KT-Z160T-RL,真空高低溫探針臺系統,使用國際上*溫度控制系統和傳感器,溫度范圍為77.15K至673.15K(-196攝氏度到400攝氏度),溫度穩定性可達0.1K。

    更新時間:2024-03-27
    產品型號:KT-Z160T-RL
    瀏覽量:1847
  • KT簡易型探針臺

    公司致力于各類探針臺(包括手動探針臺、真空探針臺)、顯微鏡成像、光電一體化的技術研發,擁有國內專業的技術研發團隊,在探針臺電學量測方面擁有近十年的經驗團隊,力爭打造業內專業探針臺電學量測服務公司。簡易型探針臺 科探為用戶提供了高性價比配置的真空高低溫探針臺,高真空探針臺冷熱型 鄭州科探該系統配置了溫度控制系統,為用戶提供精準、穩定、高效的溫度控制,節約用戶的設備預算。

    更新時間:2024-01-04
    產品型號:KT
    瀏覽量:1228
  • KT-Z400MR4T微型高溫探針臺

    微型高溫探針臺KT-Z400MR4T,0-400℃溫控,主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學性能表征和測量。

    更新時間:2024-03-29
    產品型號:KT-Z400MR4T
    瀏覽量:1426
  • KT-Z4019MRL4T小型真空探針臺 太陽能電池測試夾具

    小型真空探針臺 太陽能電池測試夾具,可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用,充入其它氣體使用,溫度范圍為77.15K至673.15K(-196攝氏度到400攝氏度)

    更新時間:2024-03-29
    產品型號:KT-Z4019MRL4T
    瀏覽量:536
  • KT-DQTL1常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺

    常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備,通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性能測試,從而為研究和生產提供有價值的信息。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節,負責晶圓的輸送與定位,確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號,實現更加精確的數據測試測量。

    更新時間:2023-10-18
    產品型號:KT-DQTL1
    瀏覽量:685
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